卓越した精度と信頼性で包括的な電磁干渉測定を実現するプロフェッショナルEMI測定レシーバ。
| オプションコード | 説明 |
|---|---|
| C3 | R&S推奨校正間隔に基づく3年間の校正サービス(測定データを含む)。 |
| B18 | 取り外し可能なハードディスク(フラッシュカード)オペレーティングシステムWinXP(工場出荷時のみ) |
| B19 | ESU-B18用第2ハードディスク(フラッシュカード)ESUファームウェア含むオペレーティングシステムWinXP |
| B24 | 内部プリアンプ 100kHz~8GHz; ゲイン 30dB公称(EMI測定レシーバ R&S® ESU8用) |
| C3 | R&S推奨校正間隔に基づく3年間の校正サービス(測定データを含む)。初回校正は製品納入時に含まれ、追加で2回のデポ校正が可能です。 |
| C5 | R&S推奨校正間隔に基づく5年間の校正サービス(測定データを含む)。初回校正は製品納入時に含まれ、追加で4回のデポ校正が可能です。 |
| DCV-2 | 校正値のドキュメント |
| DCV-ZP | DCVのプリントアウト(追加、DCV-Optionとの組み合わせのみ) |
| DKD | ESU8 DKD(ISO17025)校正(ISO 9000校正を含む)(デバイスと同時注文のみ) |
| ESPIK50 | EMI測定レシーバ R&S ESPIおよびR&S ESU用カバレッジ測定トリガー |
| FS-K7 | FMデモジュレータ、FM固有パラメータの測定が可能(FMU、FSP、FSU用) |
| FSP-B10 | FSP、FSU、FSG、FSQ、ESU、ESCI、ESPI用外部ジェネレータ制御、およびレトロフィット用 |
| FSU-B12 | FSU、FSQ用トラッキングジェネレータ出力アッテネータ |
| FSU-B4 | OCXO 10 MHz 年間経年変化: 0.35*10E-7(FSU、FSQ、FSMR用) |
| FSU-B9 | FSUおよびFSQ用トラッキングジェネレータ、100 kHz - 3.6 GHz |
| K53 | タイムドメインスキャン FFTベースのスキャンによる非常に高速な概要測定 |
総格付け
評価のスナップショット
すべての評価の分布は以下の通りですすべてのレビュー